是德科技增强边界扫描分析仪与支持最新的IEEE标准 2023年3月15日 是德科技有限公司 0评论 是德科技增强了x1149边界扫描分析仪,支持新的IEEE 1149.1-2013和IEEE 1149.6-2015标准,允许超越典型结构测试的高级边界扫描测试,并显着增加pcb的测试覆盖率。 阅读更多
高分辨率IC级表面扫描 2020年7月7日 Jorg黑客 0评论 由于更高的集成密度、更快的时钟周期,以及在IC上集成更多的辐射(如无线功能),低噪声发射PCB的开发变得越来越困难。基于这些设计挑战,在将电子部件放置在客户的PCB上之前,必须获得所有必要的信息。请继续阅读有关如何检测ic上方电磁干扰的建议。 阅读更多