是德科技增强边界扫描分析仪与支持最新的IEEE标准 2023年3月15日 是德科技有限公司 0评论 是德科技增强了x1149边界扫描分析仪,支持新的IEEE 1149.1-2013和IEEE 1149.6-2015标准,允许超越典型结构测试的高级边界扫描测试,并显着增加pcb的测试覆盖率。 阅读更多
IEEE P370: 50ghz以下互连的夹具设计和数据质量度量标准 2019年3月12日 Jay Diepenbrock,Eric Bogatin,海蒂巴恩斯,杰森·埃里森,Mikheil Tsiklauri博士,叶晓宁博士,Ching-Chao黄 0评论 用于表征复杂系统中互连的夹具会对测量数据产生重大影响,请继续阅读以了解IEEE P370的背景和观点。看看EDI CON USA 2018的杰出论文奖得主。 阅读更多