阻抗校正去嵌入验证连接器性能 2021年4月6日 Stefaan Sercu 0评论 Samtec信号完整性研发工程师Stefaan Sercu最近发表了“阻抗校正去嵌入”,讨论了阻抗校正去嵌入相对于标准2X去嵌入的优势,以下是他演讲的一些亮点。 阅读更多
50ghz以下互连测量的IEEE P370标准的实际应用 2019年3月25日 Jay Diepenbrock,海蒂巴恩斯,Eric Bogatin,Ching-Chao黄,杰森·埃里森,Mikheil Tsiklauri博士,叶晓宁博士 0评论 想知道拟议的IEEE P370标准的实际用途吗?本文介绍了IEEE P370标准草案的一些应用,以证明其在互连测量中的有效性。 阅读更多
IEEE P370: 50ghz以下互连的夹具设计和数据质量度量标准 2019年3月12日 Jay Diepenbrock,Eric Bogatin,海蒂巴恩斯,杰森·埃里森,Mikheil Tsiklauri博士,叶晓宁博士,Ching-Chao黄 0评论 用于表征复杂系统中互连的夹具会对测量数据产生重大影响,请继续阅读以了解IEEE P370的背景和观点。看看EDI CON USA 2018的杰出论文奖得主。 阅读更多