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测量和解释阻抗数据

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19年8月22日美国东部时间上午11:00至下午12:00

事件描述

信号完整性系列网络研讨会

标题:测量和解释阻抗数据

日期:2019年8月22日

时间:太平洋时间上午8点/东部时间上午11点

提出的:Steve Sandler, Picotest的创始人

由:罗德与施瓦茨公司

文摘:

电源完整性工程师一直在学习进行VRM阻抗测量,以与设计目标或“目标阻抗”进行比较。一旦进行了测量,能够解释数据是很重要的。结果是好还是坏?我需要做些什么来改善它?阻抗测量与阶跃负载响应和控制回路稳定性有何关系?

随着系统功率水平的增加,阻抗水平降低,使这一测量更具挑战性。需要具体的步骤来提高阻抗测量精度在几十微欧姆。

本次网络研讨会将讨论所有这些主题,为您提供执行精确测量,分析结果并将阻抗与阶跃负载响应和控制回路稳定性联系起来的能力。

主持人生物:

史蒂夫·桑德勒从事电力系统工程近40年。Steve是Picotest.com的创始人兼首席执行官,Picotest.com是一家专门从事高性能电力系统和分布式系统测试的仪器和配件的公司,Steve也是AEi Systems的创始人,这是一家专门从事高可靠性行业最坏情况电路分析的公司。Steve也是Signal Integrity Journal编辑顾问委员会的成员。


请注意:
通过注册参加本次网络研讨会,您的个人资料的详细信息可能会被Signal Integrity Journal使用,主持人和赞助商通过电子邮件与您联系。

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