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高di/dt时代的开关电源设计,是德科技研讨会

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11/7/18至11/15/18

事件描述

对可靠、低成本、高功率密度电力电子设备的需求不断增长,推动了开关电源的边缘速度(di/dt)的提高。在这个高di/dt的时代,布局寄生变得越来越麻烦。传统的设计技术是不够的。需要一种新的方法,增加后布局设计和仿真。在本次研讨会上,我们将发表四篇论文来解决这些挑战:

  • 高di/dt时代开关电源设计简介
  • 控制布局后寄生效果
  • 理解和控制电磁干扰
  • 优化闭环性能

本研讨会将说明如何使用ADS电路模拟器和现场求解器来克服这些问题。

谁应该参加?
高di/dt的SMPS设计人员关心由布局寄生引起的电压尖峰。


日期和地点


11月7日星期三
Keysight技术
沙克路40号
安多弗,马萨诸塞州01810

11月14日星期三
阿肯色大学
工程研究中心
研究中心大道700号
费耶特维尔,阿肯色州72701

11月15日星期四
Keysight技术
周边公园800号A室
莫里斯维尔,北卡罗来纳州27560

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