信号完整性系列网络研讨会

标题:PCI Express Gen3, Gen4和Gen5物理层测试要求和程序

日期:2017年12月14日

时间:太平洋时间上午8点/东部时间上午11点

提出的:Hiroshi Goto，安立公司业务拓展经理帕特里克·康纳利， Teledyne LeCroy技术营销工程师

由:安立公司和Teledyne LeCroy

概述:

PCI Express测试可能是一个令人生畏的前景;物理层测试需要具有复杂的协议感知能力的工具，传输速率为8、16和高达32 Gb/s。Anritsu和Teledyne LeCroy提供业界领先的信号生成、物理层和协议层分析以及误码率测量技术的符合性测试覆盖。

本次网络研讨会将使工程师了解测试规范，详细的测试程序和最佳的测试设备配置，以确保他们的产品通过PCI Express合规测试。

主持人Bios:

Hiroshi Goto他在安立公司担任高速和光学工程师超过25年的经验，担任过各种职位，包括设计工程师，产品营销工程师，目前担任高速和光学产品经理和业务开发经理。他持有青山学院大学(Aoyama Gakuin University)物理学学士学位。他居住在达拉斯地区，撰写了许多行业应用笔记和白皮书，并经常就信号完整性主题发表演讲。

帕特里克·康纳利于2013年加入Teledyne LeCroy，担任技术营销工程师，专注于高带宽示波器。他于2006年获得贝尔法斯特女王大学电气和电子工程博士学位，自2009年以来一直从事测试和测量行业。