信号完整性期刊系列网络研讨会

标题:如何开发高质量的去嵌入s参数测试夹具

日期:2022年3月31日

时间:太平洋时间上午8点/东部时间上午11点

提出的:James Drewniak, Clear Signal Solutions, Inc.总裁。

主持人:陈碧晨，PSI硬件工程师(SIPI)， Meta

由:

文摘:
从测量中提取被测件的高质量s参数需要将其从总体结构中去除，包括测试夹具导入。这些引线可以包括探头或连接器，一定长度的非同轴在线传输(例如，PCB上的带状线或微带)，以及通过过渡。对于pcb、封装和布线上的DUT，一种常见的去嵌入方法是使用2X直通和总结构来提取DUTs参数。然而，为了在许多高速和高频应用中成功地去嵌入，有必要进行3D全波电磁(EM)模拟，以开发高质量的测试夹具。本次网络研讨会探讨了包括良好的引入测试夹具的特征，从这些特征中可以提取出DUT s参数。它还解释了用于开发测试夹具的电磁仿真示例。网络研讨会还讨论了如何使用VNA进行高质量的s参数测量，并提供了比较结果。将详细介绍将嵌入到50 GHz的例子。

主持人生物:
詹姆斯Drewniak在伊利诺伊大学厄巴纳-香槟分校获得电气工程学士、硕士和博士学位。他是密苏里科技大学电气工程系电磁兼容实验室的电气和计算机工程策展人教授。他的研究和教学兴趣主要集中在高速数字和混合信号设计中的电磁兼容性，信号和电源完整性，以及电子封装。在大学工作28年后，他退休并创立了Clear Signal Solutions公司，该公司为信号和电源完整性应用提供测量和表征解决方案。他是IEEE的会员，并获得了2013年Richard R. Stoddart奖，这是IEEE电磁兼容性协会的最高技术成就奖。他曾为工业界广泛讲授信号和电源完整性以及EMI方面的短期课程。

主持人简介:
Bichen陈他于2019年获得密苏里科技大学(原密苏里大学罗拉分校)电气工程博士学位。目前，他是Meta(以前是Facebook)基础设施组的硬件(SIPI)工程师。他的研究兴趣包括高速数字系统中的信号和功率完整性，数字系统处理和SerDes器件中的均衡。

请注意:
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