联机EDI CON

标题:连通性对低阻抗测量的影响

日期:2021年8月25日

时间:太平洋时间上午9:30 /东部时间下午12:30

提出的:Steven M Sandler, Picotest董事总经理

文摘:
工程师将VNA连接到电路板上，使用各种方法进行低阻抗测量。

这些方法主要包括连接器、探针和焊接辫子。每种方法都有优点和缺点，没有一种解决方案在所有情况下都是最好的。在本节课中，对每种方法进行了定性和定量评估，强调了局限性，并提供了优化测量精度的提示。除了测量探头端的连接，还考虑了PCB端的连接，并提出了几种连接选项。

主持人生物:

史蒂夫·桑德勒从事电力系统工程工作超过40年。Steve是PICOTEST.com的创始人兼首席执行官，PICOTEST.com是一家专注于高性能电源系统和分布式系统测试的仪器和配件的公司。Steve也是AEi Systems的创始人，该公司专门从事高可靠性行业的最坏情况电路分析。

他经常就电力完整性和分布式电力系统设计的主题在国际上演讲和主持研讨会。他是Keysight认证的EDA专家。史蒂夫还是吉姆·威廉姆斯ACE年度贡献者奖(2015年)的近期获奖者，并两次入围年度测试和测量测试工程师决赛。他是2017年设计展和2017年EDICON最佳论文奖的获得者。

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