标题:辐射排放故障排除成功的三步过程

日期:2019年9月11日

时间:太平洋时间7:30 /美国东部时间10:30

提出的:Ken Wyatt, Wyatt技术服务公司首席顾问。

文摘:

对于产品设计师来说，辐射发射通常是最常见的EMI故障，许多人都害怕不得不解决这个经常导致项目延迟和成本高昂的挑战。大多数工程师都知道用近场探测器进行探测，但不知道下一步该怎么处理这些信息。我开发了一个简单的三步流程，使用近场探针、电流探针和附近的天线，成功地解决了数百个客户项目的故障。有了一些知识和正确的工具，您应该能够将故障排除和减轻辐射排放的时间从几周减少到几天。

主持人生物:

肯·怀亚特他拥有生物和电子工程学位，并曾担任各种航空航天公司的产品开发工程师10年，项目范围从DC-DC电源转换器到船上和空间平台的射频和微波系统。20多年来，他在科罗拉多斯普林斯的惠普和安捷伦科技公司担任高级EMC工程师，提供全面的EMC设计和故障排除服务。在此期间，他为EMC开发并提供高级EMC培训和企业领导。Ken是IEEE的高级成员，也是EMC协会的长期成员，他在那里担任了10年的官方摄影师。

作为一位多产的作家和演讲者，他撰写或发表的主题包括射频放大器设计，射频网络分析软件，EMC设计和产品故障排除以及使用谐波梳发生器预测屏蔽有效性。他的专长是EMI故障排除，是流行的EMC袖珍指南和RFI袖珍指南的合著者。2014年，他与Patrick andr合著了《EMI产品设计师故障排除食谱》(EMI Troubleshooting Cookbook for Product Designers)一书，由Henry Ott撰写。

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