如果你在半导体芯片上进行功率轨测量，并且适当地配备了传感线，并直接连接到芯片核心PDN，那么你的状态非常好。但如果事实并非如此呢?如果模具的I/O电源轨由核心电源轨共享，这里有一种方法来获得您的核心电源轨测量。

让我们看一个典型的通用I/O的示意图。你会发现一个CMOS驱动器(中左)，由一些信号调理电路(未显示)提供。CMOS驱动器包括P通道和n通道门，分别连接到内部的Vcc导轨(在顶部，在芯片边界内的红色部分)和Vss导轨(在底部，也在芯片边界内的红色部分)。在模具导轨上有一些电阻，在从模具本身到封装的引线中有一些电感。封装边界外(蓝色部分)是到板载电力传输网络(PDN)的连接。

当I/O被设置为低输出时，这意味着n通道被打开。图1中的绿色点连接到Vss导轨上。如果我们测量这个点相对于PCB地，我们就是在测量Vss上相对于PCB上的系统地电平的相对噪声。

图1:这个原理图表示典型的通用I/O中的I/O路径

同样地，如果我们有另一个I/O设置为输出高，这意味着p通道门被打开，n通道门被关闭。现在，图1中的绿色点连接到Vcc轨道上，我们可以测量Vcc上与系统地面相比的相对噪声。

因此，通过使用两个不同的I/O，分别作为输出高和输出低作为传感线，我们可以测量低轨上相对于电路板上的接地基准的电压噪声，我们也可以对高轨做同样的事情。通过这样做，我们可以很好地了解芯片上的电压噪声，而不需要专用的传感线。如果I/O导轨恰好连接到Vdd导轨，测量Vcc和Vss也将为我们提供有关Vdd的有价值的信息。

图2:一个简单的微控制器将作为在线电力线测量示例的DUT

要以这种方式进行质量度量，我们仍然必须遵循良好的设计(以及为测试而设计)指南。从模具上的连接必须是传输线，这意味着一个同轴连接到轨道探头。

以前在Teledyne LeCroy出版的版本测试发生博客．