在DesignCon 2018上，IEEE P370标准组宣布发布两个重要工具，以协助所有工程师进行去嵌入。在Jason Ellison和Heidi Barnes的演讲中，“NIST用于评估去嵌入算法和相应指标准确性的可跟踪PCB工具包”，宣布了两种新工具，一种电路板工具包和一种去嵌入软件工具。

在被测设备(DUT)的两端使用标准同轴连接，允许VNA测量校准到NIST可跟踪标准的连接器中间。但当DUT是电路板中间的结构时，如连接器、封装甚至是传输线的均匀截面，则需要在VNA参考平面的同轴连接器到DUT的电路板接口之间连接一个几何变压器。从固定DUT的中间取出DUT是一项棘手的任务。

Ellison和Barnes报告了IEEE P370标准组的两项创新，以帮助减少成功去嵌入的障碍。第一个是基于MATLAB的免费软件工具的发布，该工具将通过去嵌入执行2端口阻抗校正2x。

埃里森说:“我们打开了去嵌入的黑匣子，这样工程师就可以看到这项技术背后的方法论。”

Ellison编写的免费工具将两个s参数作为输入，测量的2x through参考夹具和复合FIX-DUT-FIX结构。该工具自动提取夹具的时延和损耗，并根据夹具的精确阻抗轮廓建立夹具模型，并将其连接到DUT上。图1显示了一个一致性测试的例子，将创建的夹具模型的TDR与附加到DUT的夹具的TDR进行比较。

图1所示。夹具模型和附在DUT上的夹具的TDR响应的比较。然后使用这个夹具模型从夹具中去嵌入DUT。

这个去嵌入软件工具发布在IEEE gitHub网站上，https://gitlab.com/IEEE-SA/ElecChar/P370，并可免费下载。这是IEEE P370标准小组计划发布的四个软件工具中的第一个。

P370发布的第二项创新是“即插即用”电路板套件。

虽然将DUT从两侧的固定装置中去除的软件工具很有价值，但同样重要的是能够验证测量和去除嵌入过程的准确性。Barnes介绍了一种新的小型电路板套件，旨在验证测量和去嵌入过程。

这个想法是建立小型的，可分离的夹具和DUT板，每个都可以单独测量，然后以任何组合连接在一起，测量复合结构。任何去嵌入工具都可以用来结合2x thru和FIX-DUT-FIX测量和去嵌入DUT。将脱嵌DUT s参数与单独测量的DUT进行比较，验证了脱嵌过程的准确性。

巴恩斯说:“使这个工具包得以实现的是女性对女性和男性对女性适配器的测量等级。这意味着同一块板可以连接到VNA电缆的参考平面或另一块板，在所有测量过程中保持参考平面在板的同一位置。”由八块电路板和适配器组成的套件如图2所示。

图2。即插即用套件中包含的八块电路板。

该套件可以完成的众多测试之一是使用精心设计的夹具或具有控制缺陷的夹具构建2x through FIX-FIX结构。然后可以测量FIX-DUT-FIX和用于提取DUT测量值的任何去嵌入工具。这种去嵌入式DUT模型可以与单独测量的DUT进行比较。

在一个例子中，巴恩斯展示了直接测量的Beatty DUT，然后在去嵌入之后。虽然它们在笔宽范围内重叠，但Ellison说这不是一个足够好的度量标准。他引入了一种新的相似度度量，也由IEEE P370标准组开发，用于比较绝对和相对能量向量。图3显示了直接测量DUT和用相似度量去嵌入后的均匀传输线，以量化比较。

图3。用相似度度量方法测量DUT和去嵌入DUT。与实际DUT相比，非嵌入式DUT的绝对误差在10%到50 GHz以上。

即插即用套件是由P370团队开发的，他们与Signal Microwave合作开发了一个商业版本，很快就会上市。它通过DVT Solutions出售，也可以从他们的网站上购买，http://www.gigaprobes.com/sparamverificationkit.html。

这两个工具是P370发布的第一个开源系列产品。预计明年会有更多。

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