Eric Bogatin,信号完整性杂志技术编辑
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Eric Bogatin是《信号完整性期刊》的技术编辑和Teledyne LeCroy信号完整性学院的院长。此外,他是科罗拉多大学博尔德分校ECEE系的兼职教授。Eric通过整理所有可用的信息,并在signalintegrityjournal.com上发布最优质的内容,提高了信噪比。

信号的完整性

测试驱动IEEE P370草案去嵌入标准

2018年1月2日

由IEEE P370标准组和Samtec赞助的一个独特的实践机会来表征50 GHz的互连。

IEEE P370标准小组和Samtec公司正在举办一个插头节2018年1月29日,星期一,下午1点至5点这一天正好是设计展正式开幕的前一天。这个独特的实践活动将在圣克拉拉会议中心举行。

IEEE P370小组已经开发了一份PCB互连结构的规范草案,适用于最高50 GHz,使用VNA测量。这个插件节为感兴趣的各方提供了一个机会,可以在测试中使用您的fixture和设备来尝试拟议的规范。VNA供应商将提供他们的VNA仪器来测量您的测试板。去嵌入软件供应商将提供他们的软件来从夹具s参数测量中去嵌入DUT。这是一个亲身实践的活动。

P370推荐的过程非常适合如果你的板有一个2x通过夹具结构,和一个夹具- dut -夹具复合结构。这是需要衡量的两个重要结构。使用VNA仪表时,单板上的同轴连接器应采用SMA、3.5 mm、2.92 mm、2.4 mm或1.84 mm同轴连接器。VNA仪器将以2.4毫米或1.85毫米进行校准。VNA供应商将提供从他们的仪器到您的电路板所需的任何适配器。

P370集团提供四种参与方式:

  1. 带上您自己的板和夹具,并使用提供的VNA进行测量,并应用P370方法去嵌入您的DUT。
  2. 带上你测得的s参数,试驾P370的夹具去嵌入软件和方法
  3. 借用P370设计的测试板和测试驱动器的测量和夹具去嵌入软件
  4. 使用P370测试板s参数文件测试驱动夹具去嵌入软件。

由于使用供应商工具的表数量有限,您必须提前注册并选择您想尝试的选项。这个活动的真正目的是在规范草案正式发布之前,获得用户对IEEE P370小组提出的方法的反馈。这不是比较供应商的工具。由于本次活动的公开性,IEEE P370小组建议参与者不要携带任何带有机密信息的设备。

参加不收费。如果有兴趣,想了解更多信息,请在这里在线注册:http://www.signupgenius.com/go/20f0444a4af2ea7f85-plugfest

本次插头节的结果将在EDI CON中国会议和在信号完整性期刊。

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