在2019冠状病毒病时代，网络研讨会的数量增加了三倍多，我们有更多机会加速学习曲线，或者浪费大量时间。为了找出这三位王子，我牺牲了好几个小时观看了几十场网络研讨会。去看看吧。它们很值得你花时间。

射频微波信号链及网络分析作者:Tony Wade, Keysight。

这是Keysight“回归基础”系列五场网络研讨会的第一场。此链接将带您访问本系列中的所有五个网络研讨会。该节目于7月首次播出，但可点播。

真正的忏悔。35年前，当我开始VNA测量时，我的第一步是参观当地的惠普应用实验室，坐在托尼·韦德(Tony Wade)旁边，他当时是一名新的应用工程师和HP8510专家。他带着非凡的耐心，用他的HP8510向我介绍了s参数的测量。托尼仍在从事这项工作，教授工程师们为什么s参数如此有用，以及如何开始使用网络分析器。

我对网络分析器和s参数的大部分了解都是坐在托尼·韦德旁边，听他给我讲故事的时候学到的。

在这次网络研讨会上，他向新一代的工程师介绍了现代网络分析仪。从8510天到现在，他们已经走过了漫长的道路。正如他所说，“一旦你测量了被测设备的s参数，你就知道了关于该设备的一切。”图1是他描述的可以通过网络分析器获得的一些信息的示例。

图1。VNA可以测量的一些术语的例子。

如果您是网络分析仪测量的新手，您将体验到网络分析仪的强大功能所带来的兴奋，就像我第一次坐在Tony旁边时受到感染一样。唯一的区别是他有更多的故事来分享为什么你也应该爱上VNA仪器和测量。

PCB材料的一次测量表征杰森·埃里森和迈克尔·罗兰兹，安费诺

本次网络研讨会是DesignCon“返校”系列网络研讨会的一部分。

每个人都关心他们在高速应用中使用的层压板的介电常数和损耗。如果我们有两条不同的线长，有很多方法可用，如英特尔的delta L方法或IEEE S370阻抗校正2x通过去嵌入过程，以获得单个的，均匀的微分对的s参数。

一旦我们有了均匀线截面的s参数，我们可以使用一些简单的算法来提取Dk, Df和一些与铜损耗有关的项。但是如果你的测试板上没有两条线呢?如果你只有一条线，测试线呢?如何得到Dk和Df值?

Jason和Michael想出了一个简单的方法，只用一条线就能达到提取材料属性的相同精度。关键是要对发射几何有一定的了解，并使用AICC提供的免费去嵌入工具。这个免费的工具允许他们在去除同轴发射夹具后，去嵌入传输线的统一部分。

一旦他们有了统一的线s参数和物理长度，他们从插入损耗的相位提取Dk和从插入损耗中提取总损耗。从插入损耗数据中，他们拟合损耗与频率的简单多项式展开，以提取介电损耗项、光滑铜损耗项和粗糙度项。他们使用HFSS模拟来解释预期的光滑铜行为。图2显示了他们的算法。

图2。算法采用多项式展开来拟合导体和介电损耗。

如果你关心高频层压板的性能，这是一个非常聪明的技术，很值得一试。很好地说明了他们从导体和介电损耗(包括粗糙度影响)分离的算法。

在高速数字应用中，哪些材料性能影响最大罗杰斯公司的约翰·康罗德

罗杰斯公司在高频应用中使用其材料具有丰富的宝贵经验。多年来，他们的专家，如阿尔·霍恩和约翰·康罗德，与我们分享了很多他们学到的东西。不要错过任何一个聆听这些专家意见的机会。

在这次网络研讨会中，约翰分享了每一个高速工程师都应该知道的材料的基本和高级特性。他强调，影响由这些材料组成的输电线路电气性能的不仅仅是材料的固有特性。例如，玻璃编织产生的斜度不仅取决于层压板的玻璃编织特性，而且还取决于差分对中线的间距。

铜的表面粗糙度影响层压板的Dk。这意味着除非考虑表面粗糙度，否则很难提取层压板的固有Dk。铜质越粗糙，传播信号的有效相位延迟越高，有效Dk越高。

此外，在相同的铜表面粗糙度下，复合层的厚度也会影响有效Dk。层压板越薄，铜的粗糙度对信号相位延迟的影响越大。图3显示了这种对带状线结构的影响。层越薄Dk越高。

图3。对相同材质、相同粗糙度铜条线层厚度的影响。

在John在这次网络研讨会上展示的丰富信息中，有一个情节，他顺便展示了一下，我认为这个情节应该得到业界更多的关注。我第一次看到这一点是在Al Horne的一次演讲中，直到现在我每次看到它都很惊讶。图4显示了在完全相同的低损耗衬底材料上，宽度和长度完全相同的两条微带线的插入损耗测量值。在这个例子中，大部分的损耗是导体损耗。

图4。两个名义上相同的微带的插入损失，一个与轧制铜和一个与ED铜。

与ED铜相比，轧制铜具有如此光滑的表面，而且额外的粗糙度损失如此之小，我觉得这很值得注意。这些天来，人们如此关注神奇的化学药剂，使电沉积(ED)铜更加光滑，我们不应该忽视轧制铜的特性，这已经有50多年的历史。

看看我吻过的青蛙中这三个珍贵的王子。不客气