在2019年的DesignCon上，安费诺公司的信号完整性工程师Jason Ellison宣布发布了一个免费的测试版代码，该代码实现了阻抗校正2x直通去嵌入算法。

“安费诺ICC (AICC-安费诺信息、通信和商业)业务部门决定发布这个免费代码，以帮助他们的客户和行业在不同实验室的高性能互连结构测量之间实现更好的相关性。”埃里森说。其中一个变量是提取被测设备(DUT)的去嵌入过程，测量独立于测量过程中使用的夹具。

大多数复杂的互连结构，如连接器或背板走线，都需要某种特殊的互连元件来连接测量仪器的同轴几何形状和连接到被测设备的电路板走线。这个几何变压器是夹具。例如，图1显示了两个分线板之间的安费诺连接器。带有SMA连接器的电路板是夹具。

图1所示。嵌在两块固定电路板之间的连接器。

“所有客户真正想要的是连接器的性能，而不是电路板固定装置，”埃里森说。

去嵌入算法

去嵌入是从复合测量中提取连接器或被测件的过程。Ellison在DesignCon的半天教程中将这一过程描述为三个步骤，如图2所示。

图2。三步解嵌入被测件的过程。

在第一步中，测量复合固定- dut -固定结构，并测量由端对端连接的左右夹具组成的单独结构，称为2x通孔。

在第二步中，使用这两个测量值来综合左右夹具的s参数模型。采用2x通径结构来寻找夹具元件的时延和损耗。复合结构用于构建连接到被测件两端的夹具的阻抗曲线。这是阻抗校正方法。

埃里森说，这才是真正的奇迹发生的地方。埃里森(如图3所示)将该算法作为其硕士论文的一部分，同时也是IEEE P370标准组的主要架构师。核心MATLAB算法可通过IEEE P370组获得，但完整的用户界面和计算引擎可通过AICC在现在是测试代码。

图3。Jason Ellison, AICC发布的测试版代码的作者。

在第三步中，仅使用夹具的s参数模型，使用矩阵数学从复合固定- dut -固定测量中以数学方式移除夹具。该算法合成的夹具模型的质量限制了去嵌入过程的质量。

一个重要的一致性测试

Ellison说，一项重要的一致性测试是将为每个夹具创建的s参数模型与连接到DUT的实际夹具进行比较。

比较这两个模型的方法是在时域作为TDR。图4显示了从参考结构合成的夹具模型与复合测量之间的良好一致性，夹具连接到被测件。正是这个夹具模型从复合测量中被移除，从而只显示被测件。

图4。将复合结构的实测TDR与综合夹具模型的TDR进行比较。注意完美的一致。

有许多商业工具也实现了这种阻抗校正2x Thru去嵌入算法。他们都给出了类似的结果，正如埃里森及其合著者海蒂·巴恩斯和何塞·莫雷拉在2019年设计大会上发表的另一篇论文所示。“它们在执行速度、用户界面和附加功能上有所不同，”埃里森说。“AICC工具不是为了与商业版本竞争，而是为我们的客户提供一个免费的替代方案，以提高他们测量的一致性。”

这种去嵌入工具的一个限制是，它只能去嵌入单端s参数夹具，或微分夹具，但包括微分和公共s参数项。代码假定串扰和模式转换项都为零。

AICC预计将在第三季度提供代码的第一个发布版本。与此同时，提供测试版埃里森欢迎对此提出反馈和建议。