我有个好消息要告诉你:流行的教科书，信号完整性表征技术迈克·雷索(Mike Resso)和埃里克·博加廷(Eric Bogatin)的著作，现在已经出了第二版。

很难找到介绍实用的TDR和VNA测量方法的书籍。一个重要的信息来源是应用笔记，是德科技(前身为安捷伦，前身为惠普)是推动TDR和VNA仪器艺术的先驱，拥有大量的应用笔记库。

在他们的书中，Resso和Bogatin汇集了23个应用笔记和他们写的DesignCon论文，涵盖时域和频域测量技术和分析方法。

第一部分是他们在TDR/TDT测量方法，4端口TDR和VNA测量差分对设计以及数据挖掘12端口VNA测量方面的前四大应用笔记。这是一个很好的起点，不仅可以理解如何进行这些测量，还可以理解如何解释结果。每个s参数项都讲述了有关互连的完整故事的不同部分。这些应用笔记讲述了它们的故事。

这第二版包括是德科技资深专家罗伯特·谢弗(Robert Schafer)关于时间和频率测量技术准确性的新应用程序说明。正如他经常在DesignCon的演讲中所展示的那样，Shafer对时域测量与频域测量的局限性进行了细致的分析。他论证了互连s参数测量的局限性，即与频域测量相比，时域测量的信噪比较低，抖动较大。当需要计量级测量时，VNA测量是不可替代的。

测量技术的基础和测量结果的分析是建立在本书的第一部分。其余五个部分由作者的其他应用笔记和DesignCon论文的转载组成，重点关注测量。这些内容涵盖背板、探测和去嵌入、抖动、介电材料和电路板结构测量以及28gbps信道分析和设计等主题。

如果你的工作涉及TDR或VNA方法，这本书对你的图书馆很重要。它清楚地显示了这些测量如何成为所有高性能互连分析和设计的基础。

正如Resso和Bogatin所说，“这本书的第二版甚至比第一版更好。对于设计互联网基础设施物理层组件和系统的任何人来说，更新的图形、新的感兴趣的主题和新的400G信号完整性应用都是必读的。”

现在，我有一个更好的消息:它可以从Keysight免费下载。访问:www.keysight.com/find/RessoBook并要求您提供这本有价值的教科书的PDF版本。