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本系列博客是由SIJ编辑顾问委员会(EAB)成员Steve Sandler提出的一个想法而诞生的,它面向任何想要记录(吹嘘或抱怨)极端测量挑战的工程师。如果您有一个极端的测量,并希望向SIJ EAB寻求帮助,您可以这样做在这里提问.但首先,看看下面的帖子,看看其他人都在做什么!

电源完整性

2端口阻抗测量中的电缆屏蔽电阻问题

2021年11月15日

对于这个极端测量示例,我选择了一个简单的问题,这个问题已经由我自己和许多其他人(包括过去的人)广泛发表过DesignCon论文。解决方案很容易理解,提供了一个简单的示例来说明这个过程。

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图1在传统的2端口并联测量设置中由电缆屏蔽电阻产生的非常大的误差的示例。

屏蔽电阻的误差往往比我们测量的器件大得多,如图1所示,误差为500%。对于这个测量问题,有三种可能的解决方案。一个可能的解决办法是校正误差。虽然这可能会起作用,但校准并不能纠正灵敏度,因此,例如,探针接触电阻或屏蔽电阻的非常小的变化将导致较大的测量误差。

第二种选择是使用带有浮动接收器的仪器。很少有矢量网络分析仪(vna)提供这样的解决方案,尽管Keysight E5061B是其中之一。这仍然局限于仪器的低频端,只能测量到30兆赫兹。

第三种解决方案是使用接地隔离器在端口2断开接地回路:要么是变压器隔离器,它可以解决几kHz以上的接地回路,要么是固态隔离器,它可以一直断开接地回路直到直流。

从我自己的一个关于2端口分流阻抗测量误差[1]的演讲。

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这个方程告诉我们,电缆屏蔽电阻误差本质上是端口1电缆屏蔽电阻除以隔离器的共模抑制比(CMRR)。因此,我们可以通过降低屏蔽电阻来解决误差,例如使用低阻电力输送网络(PDN)电缆或使用较短的电缆。第二种解决方案是通过选择具有改进耦合的隔离变压器或使用更高CMRR的固态放大器来提高隔离器的CMRR。我们已经确定了两种特定的工具,可以将屏蔽误差降低到足以使我们进行准确测量的程度。

一旦屏蔽误差最小化,测量可能仍然不正确。下一个障碍被确定。在这种情况下,是连接到DUT的电缆。2端口分流测量是2端口四接触点测量。在图2左边的PCB示例中,电缆首先相互连接,然后连接到DUT,然后DUT以低阻抗通过焊盘连接到地面。电缆到DUT衬垫的非常短的连接只是一个双接触点连接,提高了测量的电阻和电感。

有什么方法可以用来消除下一个障碍?在这种情况下,我们重新设计了PCB,使其具有4点连接(如图3所示),但肯定有其他解决方案。一种解决方案可能是使用2端口阻抗探头。另一种解决方案可能是不使用SMA连接器,而是将同轴电缆尾焊到电阻上。可能还有其他方法提供四点接触,这一过程将继续进行,直到确定可以用手头设备实施的解决方案。

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在解决了地面电阻错误之后,又出现了另一个错误,这个过程一直持续到所有障碍都被移除为止。

排除障碍后,就可以进行测量了。为了保持极端的测量主题,我选择测量一个33 uOhm DUT电阻。测量结果显示噪音很小,直到电阻的感应区域在约20 kHz开始为止是平坦的。

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图3在清除识别的问题后,执行电阻的测量。

我们还没有完全完成。我们怎么知道这是正确的结果呢?我们需要使用另一种方法来执行此测量,以验证其正确性。

手头有一个直流电源和一个极低噪声的数字万用表(DMM),我们可以使用VNA使用的相同连接器测量直流电阻。电源设置为源1安培到其中一个SMA连接器。低噪声DMM连接到另一个SMA连接器,DMM读数为33uV。如图4所示。极限测量现在已经执行并验证。

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图4电源源1安培到VNA测量使用的一个SMA连接器,DMM连接到VNA使用的另一个SMA连接器。DMM显示33uV,确认准确的VNA测量。

我经常被问到的一个问题是,“我可以使用2端口阻抗探头进行相同的测量吗?”我们可以把这看作是另一个障碍。探针引入了哪些我们还没有处理过的新工件?

探针使用弹簧销,这些增加了接地电阻。这与较长的电缆所呈现的问题类似。决议和以前一样。较短的电缆或较大的CMRR或较高的阻抗限制。

另一个问题是探头引入了180度相反的SMA连接器所不存在的耦合。这可以通过夹具移除校准和/或隔离校准来解决。

使用相同的电缆和相同的隔离器,阻抗下限提高了一点,但5中的示例显示了使用P2102A 2端口阻抗探头进行180 uOhm测量。

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图5使用相同的电缆和隔离器,阻抗下限提高了一点,但测量结果显示使用P2102A 2端口阻抗探头测量的电阻为180uOhm。

为了总结这个例子,我们确定了测量的障碍:屏蔽电阻和与DUT的正确连接。我们确定了控制误差的两个参数:电缆屏蔽电阻和隔离器CMRR。我们用这个解决了护盾阻力的问题。

我们重新设计了PCB以清除DUT接触,但也确定了在我们无法等待新PCB的情况下的替代解决方案。

我们使用第二种方法执行并验证了测量。

随着2端口探针引脚的引入,我们增加了一个新的障碍,并确定了克服新引入问题的限制和选项。

此示例最初在DesignCon 2021

参考:

史蒂文·m·桑德勒,如何测量超低阻抗(100uOhm及以下)pdn埃迪康大学2018年

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