超低阻抗(4微欧姆)测量 2022年7月26日, 本杰明Dannan 随着现代处理器解决方案所需的电流越来越多,Ben Dannan提出了由此产生的降低阻抗目标的主题。具体来说,如何实现阻抗目标低于10 u欧姆。继续往下读,看看他是如何做到的。 阅读更多
精确执行系统级电源完整性分析的改进方法,包括ASIC模具 2022年7月7日 本杰明Dannan,诺斯罗普·格鲁曼公司的James Kuszewski,拉姆齐·文森特,诺斯罗普·格鲁曼公司的,Shin Wu,诺斯罗普·格鲁曼公司,诺斯罗普·格鲁曼公司的威尔·麦卡弗雷,阿尔伯特公园,诺斯罗普·格鲁曼公司 没有评论 当涉及到电源完整性时,基于asic的现代系统已经不能再按照经验法则来设计了。在这篇DesignCon 2022的论文中,Ben Dannan等人解释了一个使用集总环模型的工作流,以提高效率,同时实现准确性,并降低给定系统PDN的整体风险。 阅读更多
基于DDR4-3200 FPGA的系统与Interposer功率感知SI模拟测量相关 2022年7月5日 本杰明Dannan,兰迪白,赫尔曼Ruckerbauer,HeeSoo李 没有评论 本文展示了使用第一代DDR4-3200 FPGA存储控制器之一Xilinx Versal的影响,该控制器与UDIMM接口,以展示一种将信号完整性模拟与测量精确关联的方法。 阅读更多
用TDR测量微带体介电常数(Dk) 2022年1月11日, 本杰明Dannan而且史蒂夫·桑德勒 一个评论 如果你设计了一个基于PCB堆叠的控制阻抗传输线,你如何知道PCB制造公司或其他供应商建立了你的堆叠,以满足你的控制阻抗规格? 阅读更多
常用的阻抗测量方法 2021年9月7日 本杰明Dannan而且史蒂夫·桑德勒 没有评论 本·丹南(Ben Dannan)和史蒂夫·桑德勒(Steve Sandler)在这个得出可操作结论的半开玩笑的实验中,着手寻找一种方法来缓解VNA上缺乏隔离校准步骤的问题。 阅读更多
校准用于低阻抗PDN测量的2端口探针 2021年5月18日 本杰明Dannan而且史蒂夫·桑德勒 3评论 Benjamin Dannan和Steve Sandler合作探索了各种校准方法的权衡,并提供了一些建议和考虑,以实现精确的亚毫欧阻抗测量。 阅读更多
高速DDR4通道中通根的信号完整性表征开云体育官网登录平台网址 2020年6月2日 本杰明Dannan 没有评论 随着DDR数据传输速率的不断提高,DDR通道的信号完整性已经成为最关键的问题之一。本文深入研究了通径存根对DDR4存储器上信号线阻抗的影响,包括测试用例和优化设计的方法。 阅读更多
地面弹跳如何毁了你的一天 2020年2月20日 Sunumani克里希南而且本杰明Dannan 5个评论 现在,低速印刷电路板(PCB)设计必须处理高速开关问题。本文在评估地弹对系统级EMI的影响时,检查了液晶显示器组件产生的地弹。分析了三种减轻地面弹跳的解决策略,并给出了每种策略的优缺点和测试结果。 阅读更多