奥兰多贝尔

奥兰多贝尔

Orlando Bell是位于加利福尼亚州圣克拉拉的GigaTest实验室的工程副总裁,他的主要职责包括管理高频表征实验室,推动信号完整性市场的先进测试硬件的研究和开发。多年来,Bell先生为DesignCon提供了许多关于各种主题的论文,包括双面BGA封装测量、PDN表征和夹具去嵌入技术。他拥有位于佛罗里达州盖恩斯维尔的佛罗里达大学的BSEE和MSEE学位。

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图8的拇指

通过Z输入阻抗的表征和建模

在高速数字信道设计中,通孔无处不在,成为影响信道性能的重要因素。特别是随着移动、网络和数据中心应用程序对数据速率的更高要求,通孔在设计中的作用是非常显著的。设计工程师传统上使用时域反射(TDR)作为表征和优化通径设计的工具,但TDR方法存在一些缺点,如要求较短的上升时间阶跃信号或较大的带宽s参数,以及通径阻抗读取不准确。

在这篇文章中,我们提出了一种简单有效的z输入阻抗方法,它增强了传统的TDR方法,通过在更快的速度系统中进行设计来表征和优化。


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