HeeSoo李

HeeSoo李

HeeSoo Lee是Keysight Technologies公司PathWave软件解决方案(PSS)小组的DDR/SerDes产品负责人和应用开发硕士科学家。自1989年以来,他曾在Keysight/Agilent/Hewlett-Packard担任多个不同职位,包括咨询业务经理、技术营销主管和现场应用工程师。此前,他曾在dayung Ind. Inc.担任RF/MW电路设计工程师。他在射频、微波和高速数字设计方面拥有超过30年的设计和仿真经验。他毕业于韩国韩国航空大学,获得BSEE学位。

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图8拇指

通过Z输入阻抗的表征和建模

在高速数字信道设计中,过孔无处不在,正成为影响信道性能的重要因素。特别是随着移动、网络和数据中心应用程序对数据速率的要求越来越高,过孔在设计中的作用是非常显著的。设计工程师传统上使用时域反射计(TDR)作为表征和优化通孔设计的工具,但TDR方法存在缺点,例如要求较短的上升时间步长信号或较大的带宽s参数,以及通孔阻抗的读取不准确。

在本文中,我们提出了一种简单有效的z输入阻抗方法,该方法增强了传统的TDR方法,用于在速度更快的系统中通过设计进行表征和优化。


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