Zuken宣布用于CR-8000 PCB设计套件的XJTAG DFT助手

Zuken®和边界扫描和测试设计技术的领导者XJTAG®已达成合作伙伴关系，以增强Zuken CR-8000的测试设计(DFT)能力，提高原理图输入期间的测试覆盖率。该功能基于XJTAG的DFT助手，并将于今年晚些时候作为免费插件提供给Zuken CR-8000 Design Gateway用户。

CR-8000是以pcb为基础的系统的原生3D产品为中心的设计平台。CR-8000直接支持架构设计、并发多板PCB设计、芯片/封装/电路板协同设计和全3D MCAD协同设计。CR-8000设计网关是祖垦的逻辑电路设计和验证平台。

验证JTAG链连接

印刷电路板(pcb)越来越密集，这使得很难获得许多封装下的引脚的制造测试访问，例如球栅阵列(BGAs)。JTAG被设计为支持测试访问，因此一个优化的JTAG设计可以对ROI产生积极的影响。在早期设计阶段未能优化JTAG测试覆盖率可能会增加制造成本，并可能需要重新设计电路板。

XJTAG DFT助手将帮助验证正确的JTAG链连接，同时通过与CR-8000 Design Gateway完全集成，将边界扫描访问和覆盖显示在原理图上。

XJTAG首席执行官Simon Payne表示:“XJTAG很高兴加入Zuken的解决方案生态系统。公司需要在设计阶段的早期确定如何使用最少数量的测试点来最大化测试覆盖率，因此在设计过程的示意图阶段了解可用的JTAG访问是必要的。Zuken CR-8000设计网关的XJTAG DFT助手将使您可以轻松查看设计演进过程中的测试访问。这使得测试工程师可以在pcb生产之前显著优化测试。”

Zuken美国公司市场营销副总裁Bob Potock表示:“边界扫描技术和XJTAG的DFT助手将使工程师能够在示意图进入阶段构建、优化和测量链的测试覆盖范围。对于我们的客户来说，这种增强意味着更好的测试覆盖范围，从而转化为更好的制造产量和更低的成本。”