内省技术的紧凑型测试模块解决了MIPI器件高速大批量制造测试的需求

反思技术，发布了SV4D直接连接MIPI测试模块．SV4D是一种高性能、紧凑型测试模块，可实现高速生产测试MIPI®联盟C-PHY℠或D-PHY℠发送或接收接口。这种接口广泛应用于图像传感器、显示驱动程序和片上系统(SoC)设备。随着主要MCU、ASSP和显示芯片制造商已经从该工具的晶圆分选和最终测试能力中受益，SV4D有望显著改变测试成本公式，并提高基于mipi设备制造客户的产品质量。

出现的行业趋势意味着更复杂的测试标准和产品工程师面临的更多挑战

半导体制造过程依赖于自动化测试设备(ATE)来确保晶圆制造和组装各个阶段的质量。在这个领域中，接口技术的进步为测试高速协议带来了新的挑战。例如，终端用户对更高性能的需求正在推动用于相机、显示器和无线接口的高端MIPI技术从相对较低的速度发展到每通道每秒数千兆比特的速度。再加上MIPI复杂的多级信号、复杂的物理层定时参数和极低的电压水平，这一趋势严重限制了使用现有ATE解决方案实现高故障覆盖率的能力。

“虽然我们可以使用传统的ATE进行直流参数测试，并在我们的标准SerDes接口上使用环路方法进行高速测试，但我们无法找到一种解决方案，可以为我们设备上的MIPI端口提供必要的故障覆盖，”产品与测试工程高级经理Ibrahim Aljabiri说。新思国际．“SV4D强大的MIPI功能，高运行速度和紧凑的尺寸使我们能够在现有的ATE上部署高并行多站点解决方案，”他继续说道。

没有犯错的余地——实现零缺陷
随着越来越多的制造商使用MIPI接口来支持安全关键应用程序，我们正在见证在HVM期间实现每百万单位零缺陷的新生追求。为了在HVM中获得近乎完美的质量水平，必须对MIPI接口进行快速测试，并使用覆盖整个协议复杂程度的刺激波形。具有零缺陷目标的产品要求自动化测试行业从本质上创建一个系统测试范例，在这个范例中使用了面向系统的测试方法。正如Introspect Technology首席执行官Mohamed Hafed博士所解释的那样，“我们发现世界各地的产品工程师在晶圆分类和最终测试期间都在尽可能地模仿系统级功能。因此，我们着手创建一个生产测试模块，利用我们独特的单片MIPI物理层来提供准确的测试。SV4D不仅能够使用简化的设备测试模式进行结构测试，而且还能够完全测试被测设备的链路和软件层。”

内省技术的SV4D解决了对新生产测试方法的需求
Introspect Technology设计了SV4D测试模块，以满足对ATE的并行，高速，面向系统的测试方法的需求，该方法非常接近于模拟被测设备的最终应用。实现了传统设备无法企及的集成水平，它可以部署到测试:

• 包含MIPI的应用程序处理器或AI协处理器DSI℠，DSI-2℠，或CSI℠接口;
• 包含MIPI DSI或DSI-2接口的显示驱动ic;
• 包含MIPI的图像传感器CSI-2℠接口;
• 包含MIPI的无线和物联网设备D-PHY或C-PHY;和
• 在isp或信息娱乐芯片组中发现的sLVDS链接。

SV4D支持多站点测试，可以进行电气测试和协议测试，并使用浮动互连架构，可用于晶圆探头应用以及最终测试应用。

随着MIPI接口的应用范围扩展到移动设备之外，对于自动测试行业来说，Introspect Technology的SV4D的发布再及时不过了，因为传统的ATE和过时的测试方法的限制使得满足一致性标准变得越来越困难。SV4D承诺提供一个高效的功能测试平台，不仅支持传统的ATE功能，而且还满足最新的MIPI测试需求。高速数字产品的大批量制造商所产生的质量成本只会上升，然而在他们的ATE上部署SV4D的客户已经看到了测试执行效率和成本的重大改进。随着Introspect Technology的SV4D的成功，实现每百万单位零缺陷的目标可能并不遥远。

SV4D直接连接MIPI测试模块测试仪可从Introspect技术或通过其认可的全球之一购买分销商．