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在本文中，Eric Bogatin使用权力完整性问题来说明为什么专家之间的对话至关重要。

Benjamin Dannan和Steve Sandler合作探讨了各种校准方法的权衡，并提供了一些建议和注意事项，以进行准确的亚毫欧阻抗测量。

了解一些简单的功率完整性(PI)基础知识可以在向高速数字负载提供功率时大大提高设计余量。在这篇文章中，Heidi Barnes提供了一些关于阻抗的基本经验。

我经常收到来自世界各地的设计工程师同事的问题，问我们为什么应该或不应该在配电网络(PDN)设计或验证中使用S参数或Z参数。事实是，我们应该熟悉两者，因为根据我们的设计和验证工具，其中一个可能更适合任务。继续往下读，找出原因。

使用2端口矢量网络分析仪(VNA)测量低阻抗元件是一项必不可少的技术，通常需要花费超过20,000美元的VNA。在本文中，了解作者如何使用500美元和开源仿真工具测量MLCC。

有时候，当SI和PI两个世界碰撞时，我们得到了两个世界的好处。通过借用PI世界的简单阻抗测量技术，我们可以使用另一种工具来测量SI世界中统一设计的传输线的真实特性阻抗，请继续阅读以了解更多信息。

在高速数字设计中，只需一个异常电压波就可以杀死PDN。布局前的平坦阻抗优化降低了设计中出现异常波的风险。海蒂巴恩斯解释了流氓波是如何发生的，并解决了如何以最低的成本获得最佳性能。

低速印刷电路板(PCB)设计现在必须处理高速开关问题。本文研究了LCD组件产生的地反弹，同时评估了地反弹对系统级EMI的影响。分析了三种减轻地面弹跳的解决策略，并给出了每种策略的优缺点以及测试结果。

较差的控制回路稳定性会导致电源抑制比、瞬态响应、输出噪声以及混合信号电路的抖动退化。数据表应用示例和参考设计通常不包括稳定性信息，并且测量通常得出稳定性差的结论。

测量小的电阻值并非微不足道，但自从1861年开尔文勋爵发明开尔文桥以来，¹我们至少有一个测量非常低直流电阻的解决方案:四线开尔文连接(见图1)。我们通过发送已知电流通过电阻来测量电阻，并使用单独的导线测量压降。