在执行诸如验证pcb上的数字高速信号结构等任务时，必须在某些层上进行测量，而不受探针，探头垫，过孔，引入和引出的影响。这需要使用精确的去嵌入算法来计算和从测量中去除这些影响，只留下感兴趣区域的结果。

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