HUBER + SUHNER这家光学和电气连接产品的组件和系统制造商将在今年的圣克拉拉设计展上展示其最新的数字系统测试解决方案。
今年，HUBER+SUHNER的产品将专注于为高速数字测试开发和增强的电气解决方案和组件。该公司的解决方案设计高度灵活，具有无与伦比的电气特性和最佳的相位稳定性，提供革命性的高速测试。
“在一个性能、速度和密度至关重要的世界里，创新的高速数字测试解决方案是关键，”Stéphanie Jarno说，HUBER+SUHNER仪器仪表市场经理。“随着测试设置变得越来越复杂，我们看到对更高等级密度和灵活性的需求越来越大，我们的新开发项目已经朝着这个方向发展，提供额外的配置来满足这些设计限制。”
在展台上推出的将是MXPM70，这是gang - ed多同轴电缆家族的最新成员。在性能和测量可靠性方面，MXPM70布线解决方案具有小尺寸和无与伦比的电气特性。作为台式和系统测试的基本解决方案，MXPM系列结合了可靠的配合和易用性，为用户提供了更高水平的精度。多同轴连接器解决方案是用户友好的，提供高达70GHz(可选85GHz)的同轴到pcb过渡智能接口保护和创新的锁定机制。
“MXPM系列是一种革命性的多同轴解决方案，旨在满足最严格的测试要求。电透明，提供非常小的间距，该解决方案非常适合应用程序容忍没有信号完整性退化。最初的产品线运行频率高达70GHz，在不久的将来将进一步扩展。”
SUCOFLEX 500系列也将在展台上展出，其中500S测试组件设定了退货和插入损耗的行业标准。将公司目前的产品组合扩展到包括高达50GHz的高性能测试组件，SF550S还提供了更高的相位和振幅稳定性，而不是弯曲和运动。
今年的展示还包括HUBER+SUHNER 1.0mm组件和适配器的超宽带解决方案，可以实现从DC到110GHz的精确测量。
“我们期待在今年的DesignCon上展示我们最新的测试技术，包括所有新的MXP和MXPM解决方案。我们希望分享我们的持续努力，并证明为什么HUBER+SUHNER将继续成为可靠测试和解决方案领域业内最领先的开发商之一。”Jarno补充道。
DesignCon的与会者可于2018年1月30日至2月1日在加利福尼亚州圣克拉拉会议中心的852号展位观看MXP系列和其他HUBER+SUHNER产品。