Zuken®与边界扫描和测试技术设计领域的领导者XJTAG®达成合作关系，以增强Zuken CR-8000的测试设计(DFT)能力，在原理图输入过程中提高测试覆盖率。该功能基于XJTAG的DFT助手，将在今年晚些时候作为免费插件提供给Zuken的CR-8000设计网关用户。
CR-8000是基于pcb系统的原生3D产品中心设计平台。CR-8000直接支持架构设计、并发多板PCB设计、芯片/封装/板协同设计和全3D MCAD协同设计。CR-8000设计网关是Zuken的逻辑电路设计和验证平台。
验证JTAG链连接
印刷电路板(pcb)的人口密度越来越大，这使得在许多封装(如球栅阵列(BGAs))下获取引脚的制造测试变得越来越困难。JTAG被设计为支持测试访问，因此优化的JTAG设计可以对ROI产生积极的影响。未能在早期设计阶段优化JTAG测试覆盖率可能会增加制造成本，并可能需要重新设计电路板。
通过与CR-8000设计网关的完全集成，XJTAG DFT助手将帮助验证正确的JTAG链连接，同时在原理图上显示边界扫描访问和覆盖。
XJTAG的首席执行官Simon Payne表示:“XJTAG很高兴加入Zuken的解决方案生态系统。公司需要在设计阶段的早期确定如何使用最少数量的测试点来最大化测试覆盖率，因此了解在设计过程的方案阶段有什么JTAG访问是非常必要的。zken CR-8000设计网关的XJTAG DFT助手将使您在设计发展过程中容易看到测试访问。这允许测试工程师在pcb生产前显著优化测试。”
Zuken美国公司营销副总裁Bob Potock表示:“边界扫描技术和XJTAG的DFT助手将使工程师能够在原理图进入阶段构建、优化和测量链的测试覆盖率。对于我们的客户来说，这意味着更好的测试覆盖范围，从而转化为更好的制造率和更低的成本。”