本公司在2023年1月31日至2月2日于加利福尼亚州圣克拉拉举行的DesignCon 2023期间，芯片、电路板和系统设计工程师通过演示矢量网络分析仪(VNAs)和误码率测试仪(bert)、技术会议和行业领先的电子设计会议之一的小组讨论，了解了创新的测试方法。

在DesignCon 2023上，安立公司对解决复杂设计的先进测试方法进行了产品演示。两种测试方案包括:

  • PCIe®6.0 Rx兼容性测试
    • 安立公司展示了一种单仪器PCIe解决方案，其特点是信号质量分析仪- r MP1900A。MP1900A是支持新的PCIe 6.0基本规格接收器测试的第一个解决方案，确保了使用PCI 6.0的芯片设计的信号完整性。如演示所示，一体化MP1900A简化了合规性测试最坏情况配置，同时支持准确的Rx链路均衡(LEQ)评估。
  • 信号的完整性
    • 为了表征高达70 GHz的高速互连、印刷电路板(pcb)、背板、固定装置、包和探针，Anritsu展示了其VectorStar™4端口宽带VNA。VectorStar可以进行精确和可重复的单端、平衡微分和混合模式s参数测量。它的能力轮廓阻抗沿一条线使用时域反射(TDR)和模拟眼图高速通道的特点。还将展示用于夹具去嵌入和电到光(E/O)和光到电(O/E)传递函数测量的网络提取。

安立公司的高级架构师Hiroshi Goto参加了两个技术会议和一个关于新兴高速技术的小组讨论:

  • PCIe 6.0 Rx测试要求
    • Goto概述了目前对PCIe 6.0 Rx校准和测试的要求。他介绍了LEQ测试、PAM4误码率(BER)、符号误码率(SER)和抖动容限测试。前向纠错(FEC)和流量控制单元(FLIT)模式不可纠正的突发错误分析也将被涵盖。
  • USB4®2.0版本Tx和Rx电气法规
    • 本次技术会议提供了USB4 2.0版本电气验证和符合性测试的更新，相关测试工具，以及满足USB-IF测试计划时间表的挑战。讨论了新的USB4 2.0版CTS需求、验证和调试用PAM3分析、自动SigTest符合性测试以及接收机校准和测试。
  • FEC和信号完整性
    • Goto参加了一个名为“闭上眼睛的案例:将FEC连接到信号完整性”的技术小组。他参加了一个关于FEC的小组讨论，以及它如何受到信号完整性挑战的影响，以及测试架构以帮助连接FEC和信号完整性。

安立公司与其他行业领导者一起参加了三次联合演示。每个演示都突出了解决特定高速信号完整性挑战的集成解决方案。

  • 泰克和Synopsys®
    • 安立公司与泰克公司和Synopsys公司一起参加了PCIe 6.0现场演示，该演示将重点介绍以64 GT/s的速度自动化PCIe 6.0 Base Tx/Rx测试。演示将采用安立MP1900A BERT，泰克DPO70000SX实时示波器和经过硅验证的Synopsys PCI Express 6.0 IP DUT。
  • SENKO
    • 通过SENKO和Anritsu BERTWave™MP2110A和Network Master™Pro MT1040A的低损耗SN-MT连接，两家公司演示了100 Gbps (53 Gbaud)的BER测试和PAM4眼型分析。
  • 花岗岩河实验室(GRL)
    • Anritsu和GRL展示了用于高速串行总线接收器测试的自动化解决方案，如PCIe、USB、Thunderbolt和DP。MP1900A采用GRL软件，建立快速灵活的测试方法。