Menlo Micro在加州圣克拉拉的DesignCon上推出了一款新的双双极/三掷(2x DP3T)开关。MM5620开关为高速差分数据应用提供了最高的性能和数据速率。它为移动电话、图形、网络处理器以及微处理器和高速内存产品的空间受限最终测试和探测测试提供了前所未有的并行测试水平。
MM5620 2x DP3T开关基于Menlo Micro目前正在生产的业界领先的32 Gbps MM5600双极/双抛(DPDT)开关，提供从DC到20 GHz的下一代高速操作，具有前所未有的数据速率和RF信号线性度，提供高达64 Gbps (64 GT/s)的高质量数据信号完整性。MM5620交换机的系统级封装(SiP)解决方案完全集成了开关驱动器和电荷泵，以及环回电容，为大批量生产测试解决方案提供了显著的电路板占地面积减少。
Menlo Micro联合创始人兼营销高级副总裁Chris Giovanniello表示:“MM5620提供了业界首款完全集成的差动环回测试解决方案，专为要求苛刻的高速数字应用而设计，基于最新的PCIe Gen 5、Gen 6和SerDes标准。”更快的数据速率和高速总线对于下一代人工智能(AI)、机器学习(ML)、5G基础设施、数据中心和基于云的连接应用至关重要。随着对更高性能的推动和大幅降低测试成本的需求，MM5620将帮助IC制造商提高测试覆盖率和成品率，同时将测试吞吐量提高3倍。”
Menlo Micro的MM5620 DP3T代表了几个重要的行业第一的顶峰:
集成回路: MM5620提供完整的端到端TX到RX差分环回解决方案，包括集成去耦电容器，同时还提供多个高速连接回用户测试设备。
紧凑的设计MM5620采用了8.2 mm x 8.2 mm x 1.6mm的LGA封装，与传统的电磁继电器(EMR)解决方案相比，尺寸减小了90%。这种显著的体积缩减使得更多的测试站点和更容易的顶部和/或底部路由成为可能。
1000倍快速切换: MM5620的超快开关速度(操作时间< 10µs，释放时间< 2µs)比EMRs快1000倍，可缩短测试时间和测试成本。
可靠性提高1000倍: MM5620提供了无与伦比的可靠性，可以在超过30亿次切换周期下运行，从而减少停机时间、维护和成本，与传统emr相比，使用寿命延长了1000倍。
功率效率: MM5620的工作功率小于9 mW，与emr或其他继电器相比，功耗显著降低，使其成为市场上最高效率的高速DP3T开关解决方案。
要了解更多关于门洛微，其理想开关技术和新的MM5620开关，请在DesignCon 2023的908展位停留或访问menlomicro.com．
可用性
有关MM5620 Q2 2023样品的可用性和价格信息，请通过sales@menlomicro.com联系Menlo Micro销售代表。