安立公司将于2023年1月31日至2月2日在加利福尼亚州圣克拉拉市举行的DesignCon 2023期间展示准确有效地验证高速通信设计的解决方案、技术和方法。芯片、板和系统设计工程师可以通过展示矢量网络分析仪(vna)和误码率测试仪(bert)来学习创新的测试方法;在业界领先的电子设计会议之一期间的技术会议和小组讨论。
创新测试解决方案
在DesignCon 2023上，安立公司将展示解决复杂设计的先进测试方法。MR1462会议室展示的两种测试方案是:
作为PCIe®6.0 Rx符合性测试安立公司将展示其信号质量分析仪r MP1900A的单仪器PCIe解决方案。MP1900A是第一个支持新的PCIe 6.0基本规格接收器测试的解决方案，可确保利用PCI 6.0的芯片设计的信号完整性。如演示所示，一体化MP1900A简化了合规测试的最坏情况配置，同时支持精确的Rx链路均衡(LEQ)评估。
信号的完整性为了表征高达70 GHz的高速互连、印刷电路板(pcb)、背板、固定装置、封装和探头，安立公司将展示其VectorStar™4端口宽带VNA。VectorStar可以进行精确和可重复的单端、平衡差分和混合模式S-Parameter测量。它能够利用时域反射计(TDR)沿线路描绘阻抗，并模拟高速通道的眼图。还将展示夹具去嵌入和电光(E/O)和光电光(O/E)传递函数测量的网络提取。
技术教育
安立公司高级建筑师Hiroshi Goto将参加两个技术会议和一个关于新兴高速技术的小组讨论:
PCIe 6.0 Rx测试要求- 2月2日(星期四)，后藤将概述PCIe 6.0 Rx校准和测试的当前要求。他将涵盖LEQ测试，以及PAM4误码率(BER)，符号误码率(SER)和抖动容限测试。前向纠错(FEC)和流量控制单元(FLIT)模式不可纠正的突发错误分析也将被涵盖。
USB4®版本2.0 Tx和Rx电气兼容性- 2月2日的技术会议将提供USB4 2.0版本电气验证和合规性测试的最新信息，相关测试工具，以及满足USB-IF测试计划时间表的挑战。新的USB4 2.0版本CTS要求，PAM3分析验证和调试，自动化SigTest符合性测试，以及接收机校准和测试将被讨论。
FEC和信号完整性-后藤健二将于1月31日(周二)参加题为“闭眼案例:将FEC连接到信号完整性”的技术小组讨论。他将参加一个关于FEC的小组讨论，讨论信号完整性挑战对FEC的影响，以及帮助搭建FEC和信号完整性桥梁的测试架构。
合作伙伴解决方案
安立公司将与其他行业领导者一起参加三次联合演示。每个会议都将重点介绍解决特定高速信号完整性挑战的集成解决方案。
泰克和新思科技®-在727号展位，安立公司将与泰克公司和新思公司一起参与PCIe 6.0的现场演示，该演示将重点介绍64 GT/s的PCIe 6.0 Base Tx/Rx测试自动化。该演示将采用安立MP1900A BERT、泰克DPO70000SX实时示波器和经硅验证的Synopsys PCI Express 6.0 IP DUT。
SENKO-两家公司将通过SENKO和安立BERTWave™MP2110A和Network Master™Pro MT1040A的低损耗SN-MT连接演示100 Gbps (53 Gbaud) BER测试和PAM4眼纹分析。
花岗岩河实验室(GRL)-安立和GRL将展示用于高速串行总线接收器测试的自动化解决方案，如PCIe、USB、Thunderbolt和DP。本文将MP1900A与GRL软件结合，建立一种快速灵活的测试方法。