首页赞助: 高频、低相位噪声介质谐振振荡器相位噪声的测量 本白皮书首先概述了高频信号的相位噪声测量。 2022年9月9日 Holzworth 0评论 随着DRO在下一代应用中的影响力越来越大,必须准确捕获和验证其相位噪声性能,以确保最佳运行。相应地,其低相位噪声的机械调谐和由于温度漂移的倾向提出了重大的测试和测量挑战。测试仪器内部的宽带本振(LOs)的噪声底限会主导结果,而频率漂移会严重扭曲数据。本白皮书首先概述了高频信号的相位噪声测量。接下来,讨论了具有极低相位噪声水平和温度不稳定性的DROs的测试挑战。 立即下载白皮书 相关资源 相位噪声分析仪:53100A Vishay Intertechnology电感特点低DCR,高电流密度多相电源 高性能晶体振荡器:Si54x/6x Ultra系列 Total Phase Inc. 请注意:通过下载本白皮书,您的联系信息将与赞助公司霍尔茨沃思共享,他们可能会直接通过电子邮件或电话与您联系,用于营销或广告目的。 跳转到页面: 相关文章 高速数字设计中锁相环加性相位噪声和抖动衰减的验证 高速数字设计中锁相环加性相位噪声和抖动衰减的验证 你必须登录或注册为了发表评论。 举报辱骂性评论 感谢您帮助我们改进我们的论坛。这个评论冒犯了吗?请告诉我们原因。