随着DRO在下一代应用中的影响力越来越大，必须准确捕获和验证DRO的相位噪声性能，以确保最佳运行。相应地，它的低相位噪声机械调谐和由于温度漂移的趋势提出了重大的测试和测量挑战。测试仪器内部的宽带本振(LOs)的噪声底可以支配结果，而频率漂移会严重扭曲数据。本白皮书首先概述了高频信号的相位噪声测量。接下来，讨论了具有极低相位噪声水平和温度不稳定性的DROs的测试挑战。
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