罗德与施瓦茨现在提供了一个
罗德与施瓦茨现在为DUT晶片上的全射频性能表征提供了一种测试解决方案，该解决方案结合了Rohde & Schwarz强大的R&S ZNA矢量网络分析仪和来自形状因子．因此，半导体制造商可以在开发阶段、产品确认和生产过程中执行可靠和可重复的晶圆上器件表征。
5G射频前端设计师的目标是确保适当的射频能力，以实现频率覆盖和输出功率，同时优化能源效率。该过程的一个重要阶段是研究射频设计，以尽早获得设计反馈，并评估晶圆级的性能和能力。在片上环境中表征DUT需要一个测量系统，该系统包括矢量网络分析仪(VNA)、探针站、射频探针、电缆或适配器、专用校准方法以及针对特定DUT或应用的校准衬底。
相关资源
为了执行这些基本的测量，罗德施瓦茨正在提供高端R&S ZNA矢量网络分析仪，它在同轴和波导水平上表征所有RF确认参数，以及用于67 GHz以上应用范围的频率扩展器。FormFactor通过手动、半自动和全自动探针系统解决晶圆接触问题，包括热控制、高频探针、探针定位器和校准工具。完整测试系统的校准，包括R&S ZNA，在FormFactor WinCal XE校准软件中完全支持。
在测试设置中，由于完全校准的设置，用户可以访问R&S ZNA的所有测试功能。通用s参数测试允许对滤波器和有源器件进行表征，但也可以进行失真、增益和互调测试以确定功率放大器。具有跨设备带宽相位表征的混合器的频率转换测量是联合解决方案支持的测量应用的另一个例子。完全校准的设置还允许所有结果直接从VNA中提取，无需后处理，因为校准数据直接应用于VNA。Rohde & Schwarz的频率扩展器打开了亚太赫兹频率，如Dband，目前是6G研究的重点。扩展器将集成到探头站，以确保最短的布线和实现最佳的动态范围，同时避免由于布线到探头尖端造成的损失。
从形状因子．因此，半导体制造商可以在开发阶段、产品确认和生产过程中执行可靠和可重复的晶圆上器件表征。
5G射频前端设计师的目标是确保适当的射频能力，以实现频率覆盖和输出功率，同时优化能源效率。该过程的一个重要阶段是研究射频设计，以尽早获得设计反馈，并评估晶圆级的性能和能力。在片上环境中表征DUT需要一个测量系统，该系统包括矢量网络分析仪(VNA)、探针站、射频探针、电缆或适配器、专用校准方法以及针对特定DUT或应用的校准衬底。
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为了执行这些基本的测量，罗德施瓦茨正在提供高端R&S ZNA矢量网络分析仪，它在同轴和波导水平上表征所有RF确认参数，以及用于67 GHz以上应用范围的频率扩展器。FormFactor通过手动、半自动和全自动探针系统解决晶圆接触问题，包括热控制、高频探针、探针定位器和校准工具。完整测试系统的校准，包括R&S ZNA，在FormFactor WinCal XE校准软件中完全支持。
在测试设置中，由于完全校准的设置，用户可以访问R&S ZNA的所有测试功能。通用s参数测试允许对滤波器和有源器件进行表征，但也可以进行失真、增益和互调测试以确定功率放大器。具有跨设备带宽相位表征的混合器的频率转换测量是联合解决方案支持的测量应用的另一个例子。完全校准的设置还允许所有结果直接从VNA中提取，无需后处理，因为校准数据直接应用于VNA。Rohde & Schwarz的频率扩展器打开了亚太赫兹频率，如Dband，目前是6G研究的重点。扩展器将集成到探头站，以确保最短的布线和实现最佳的动态范围，同时避免由于布线到探头尖端造成的损失。