安立公司将在圣何塞设计展期间举办教育测试讲座| 2021-08-03 |信号完整性杂志

本公司将主持一系列Anritsu测试谈话8月18日，星期三，在首屈一指的高速通信和系统设计会议DesignCon期间。全天的教育和现场演示将为芯片组、电路板和系统设计工程师提供关于包括PCIe在内的新兴高速技术的见解^®5.0和6.0，以及有效的测试流程，以确保设计性能。

所有会议将在圣何塞McEnery会议中心210F室举行。在设计展钻石赞助商安立公司(Anritsu)主持的每一场会议上，拥有各自技术专长的经验丰富的工程师将主持。

七个教育会议和示范

8月18日(星期三)上午9时至下午5时，将举行七场安立试讲。疗程从40-60分钟不等。测试会谈的摘要如下:

在设计pcb时，顺序剥离、萃取和去嵌的重要性

时间:上午9点至9点40分

文摘:设计和测试差速器器件，特别是印刷电路板(pcb)的工程师依靠矢量网络分析仪(vna)来缩短设计周期和加速上市时间。随着设计扩展到更高的频率和电路板空间的稀缺，特定的VNA工具和测试技术变得越来越重要。与会者将了解这些方法，包括顺序剥离提取和去嵌入。

PCIe 5.0 RX LEQ测试现场演示的开放日

时间:上午10:00 - 11:00(与会者可在该时段内的任何时间参观)

文摘:将使用真实的第5代(G5)待测设备(DUT)进行PCIe 5.0 LEQ测试。参观者将使用Anritsu体验G5 LEQ测试的测试程序信号质量分析仪- r MP1900A．

适用于PCIe 6.0及以上版本的PAM4 BER和JTOL测试解决方案

时间:上午11:05 - 11:45

文摘:本课程将概述32 Gbaud及以上，PAM4 BER测试和抖动公差(JTOL)测量。它还将包括前向误差校正(FEC)和突发误差分析。参与PCIe 6.0或400GE/800GE应用的工程师将发现这个会话非常有用。

现场演示的PAM4 BERT和JTOL, FEC和突发误差分析

时间:中午12点至12点45分

文摘:与会者将现场演示使用MP1900A进行PAM4 JTOL测试和FEC突发错误分析。演示将显示:

汽车测试解决方案

时间:下午二时至二时四十分

文摘:本环节将概述安立汽车测试解决方案。讨论的技术和应用包括5G/蜂窝、信息娱乐/连接/蓝牙^®/WLAN、ADAS、雷达、C-V2X、PCIe。

USB c型^®标准PHY测试。什么是相同的，什么是不同的?
时间:下午三点至三点四十分

文摘:USB4™和DisplayPort™采用了英特尔的Thunderbolt PHY规范作为物理层的“构建块”。本节课将讨论这些标准在符合性测试规范(CTS)和测试方法方面的异同。

PCIe 5.0接收机LEQ符合性测试

时间:下午4点至5点

文摘:最后的Anritsu测试讲座的与会者将了解解决PCIe 5.0在32.0 GT/s速度下的新测试和测量接收机挑战的方法。讨论的主题包括:

教育课程免费向所有DesignCon参与者开放。

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