在电子射频器件中，由于屏蔽不良引起的EMI辐射和串扰会导致信号质量和性能下降。为了降低电子设备的整体电磁干扰，必须了解集成电路板和模块的局部辐射源。RF设计人员在模块级执行近场测量，以确定电磁干扰是否符合适用的EMC标准，以便能够在早期阶段采取纠正措施。

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