本技术论文提供了测量数据和多种场求解器技术之间的相关性研究，为不同类型的分析提供了多种参考，包括电源完整性和信号完整性的交流频域比较。它包括对封装和印刷电路板使用TDR和噪声测量结果的时域表征。关于端口参考阻抗的影响，一些人声称商业EDA解决方案受到限制，其中解决方案的准确性依赖于在模拟之前对PDN的正确端口参考阻抗的猜测。ANSYS®SIwave™不受此限制。

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