本公司(DesignCon展位#837)将在1月28日至30日在加利福尼亚州圣克拉拉举行的DesignCon 2020上为设计工程师提供一系列信号完整性解决方案。领先的测试仪器和新兴技术用于验证具有PCI Express的设计®(作为PCIe®) 3.0/4.0/5.0、以太网PAM4和其他高速互连技术将展出，以帮助工程师获得对芯片组、电缆、互连和正在开发的系统的信心。
安立设计展展台的测试演示将是支持PCIe 5.0基础/CEM规范压力接收器测试的PCI Express测试解决方案。游行的中心将是信号质量分析仪- r MP1900A系列安装了自动化软件，用于基本规格校准和支持SKP滤波器的误码率测量软件。借助该系统，工程师可以轻松地为PCIe 5.0 IP和设备的早期开发配置测量环境，加快技术的推出。
MP1900A将在其他验证高速设计的演示中展示。它将与BERTWave™MP2110A和MS9740B阻塞性睡眠呼吸暂停综合症进行400G光学PAM4 TDECQ测试，以及在配置中进行自动化高速串行总线RX测试。
安立公司在矢量网络分析仪(VNA)技术方面的领先地位也将在DesignCon 2020上展出。的ShockLine™MS46524B 4端口VNA将进行去嵌入和网络提取测量，以及VectorStar™MS4640B将在110 GHz信号完整性测量配置更有效的设备建模。
网络技术小组
安立高速光学产品和业务开发经理Hiroshi Goto将参加关于高速网络技术测试现状的小组讨论。题为闭上眼睛的案例:PAM是答案，还是不是?，活动将于1月28日(周二)下午4:45在f宴会厅举行，Goto和其他小组成员将评估400GbE与PAM4特性描述工作的优缺点。
技术会议
对高速设计进行准确评估的进一步讨论将于1月30日星期四在Great America - 2室举行。安立公司将领导一系列技术会议，解决新出现的测试问题，包括:
O/E组件的特征-一个环节将讨论精确表征光电(O/E)和光电(E/O)组件的技术，这些组件被认为是通信系统的构建模块，也是下一代网络无缝工作的关键要素。
PCIe 4.0/5.0 Tx/Rx LEQ符合性测试-与Teledyne LeCroy联合举办，讲座将让工程师了解PCIe测试规范，详细的测试程序，以及优化的测试设备配置，以确保他们的产品通过PCIe 3.0/4.0 TX/RX合规测试。本文还将介绍一个PCIe 5.0测试解决方案。
PCIe 4.0/5.0 SerDes Test -本课程将讨论PCIe如何解决与NRZ信令实现32 GT/s功能相关的挑战。它将包括对关键SerDes测试的技术描述和详细指导。
用FEC -对53 Gbaud PAM4进行400G误码率和抖动耐受试验安立公司将介绍PAM4 400GbE标准的最新测试技术和要求。重点是100G PAM4信号完整性、抖动容限测试、ISI注入/仿真和误差分布分析，以确定如何通过FEC(前向纠错)纠正错误。随后，安立公司将进行现场演示100Gbps PAM4误码率和FEC误差分析。