微波视觉组(MVG)近日，该公司宣布将辐射杂散发射(RSE)和无源天线测量功能集成到其基于实验室的测试系统MiniLAB中。
为了加快上市时间至关重要的应用程序的设计和生产过程，这一范围扩展允许工程师在一个紧凑的便携式测试系统上执行高质量、可重复的OTA测试，以及无源测量和测量LTE设备上RSE的方法。
MiniLAB采用多探头技术来测量RSE，大大缩短了测量时间，而传统的方法是使用垂直扫描机械运动来监测设备在方位上的旋转，这种方法耗时较长。
在测量完成后的20秒内生成精确的数据，探头阵列拱使用电子扫描来测量无线设备，使用户在LTE频段高达6 GHz的情况下更容易更快地测量RSE。
MiniLAB配备了一个具有>100 dB射频衰减的消声屏蔽室，可提供必要的动态范围来测量传输的无线信号和周围发射的峰值水平而不失真。
该测试系统旨在满足国际电信联盟(ITU)、欧洲无线电和电信终端设备(R&TTE)指令和联邦通信委员会(FCC)等权威机构对测量无线设备RSE的严格测试要求。
有关MiniLAB的更多信息，请访问www.mvg-world.com。