Keysight科技有限公司发布了一种新型动态功率器件分析仪，带有双脉冲测试仪(PD1500A)，可提供可靠、可重复的宽带隙(WBG)半导体测量，同时确保测量硬件和执行测试的专业人员的安全。
全球电动汽车(EV)市场的增长推动了对小型、大功率、高效电力系统的强劲需求。随着行业将WBG半导体技术用于可再生能源和电动汽车等关键任务应用，许多功率转换器设计人员对采用这种新技术犹豫不决，因为在表征新一代半导体(包括绝缘栅双极晶体管(IGBT)、碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN)等半导体时存在潜在的可靠性和可重复性风险。
完全表征SiC或GaN器件需要静态和动态测量。Keysight的B1505A和B1506A功率器件分析仪提供这些静态测量，随着新的PD1500A的加入，现在还提供了解决各种动态测量所需的灵活性。这种功能是关键，因为联合电子设备工程委员会(JEDEC)建立的WBG器件标准不断发展。JEDEC是半导体行业和工程标准化组织。
Keysight的PD1500A设计为模块化，允许在各种功率水平下测试许多设备类型和执行不同的特性测试。初始系统为额定值高达1.2 kV和200 A的Si和SiC功率半导体提供完整的双脉冲测试表征和参数提取。未来，PD1500A还将添加额外的模块，以对需要更大电流的设备(如GaN和电源模块)进行测试。
Keysight的新型PD1500A动态功率器件分析仪具有双脉冲测试功能，可提供可靠、可重复的宽带隙(WBG)半导体测量，使客户能够:
- 通过减少所需的设计时间和原型数量，降低成本并加快上市时间
- 确保安全的测试环境
- 记录、支持和维护现成的测试解决方案，以及在一个或多个站点维护多个测试解决方案
- 通过关注坚固性的测量(例如，短路和雪崩)快速响应可靠性问题
- 简化并自动化测试过程
- 改进用于设计和仿真软件的器件模型(PD1000A）
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