反思技术，发布了SV4D直接连接MIPI测试模块。SV4D是一款高性能、紧凑的测试模块，可用于快速生产测试MIPI®联盟C-PHY℠或D-PHY℠发射或接收接口。这种接口广泛应用于图像传感器、显示驱动程序和片上系统(SoC)设备。随着主要的MCU、ASSP和显示芯片制造商已经受益于该工具执行晶圆排序和最终测试的能力，SV4D有望显著改变测试成本公式，并为制造基于mipi的设备的客户提高产品质量。
新兴的行业趋势意味着更复杂的测试标准和产品工程师更多的挑战
半导体制造过程依赖于自动化测试设备(ATE)来确保晶圆制造和组装各个阶段的质量。在这一领域，接口技术的进步为测试高速协议带来了新的挑战。例如，终端用户对更高性能的需求正在推动用于摄像头、显示器和无线接口的高端MIPI技术从相对较低的速度提高到每车道每秒千兆比特的速度。再加上MIPI复杂的多级信号、复杂的物理层定时参数和极低的电压水平，这一趋势严重限制了使用现有ATE解决方案实现高故障覆盖的能力。
产品和测试工程高级经理Ibrahim Aljabiri表示:“尽管我们可以使用传统ATE进行直流参数测试，并在标准SerDes接口上使用环路方法进行高速测试，但我们无法找到一种解决方案，可以为我们设备上的MIPI端口提供必要的故障覆盖。”新思国际。他继续说道:“SV4D强大的MIPI功能、高操作速度和紧凑的尺寸使我们能够在现有ATE上部署高并行多站点解决方案。”
没有错误的空间——实现零缺陷
随着越来越多的制造商使用MIPI接口来为安全关键型应用供电，我们正在见证一种新生的追求，即在HVM期间实现每百万件出货量零缺陷。为了在HVM中达到近乎完美的质量水平，MIPI接口必须快速测试，并使用覆盖整个协议复杂范围的刺激波形进行测试。具有零缺陷目标的产品要求自动化测试行业本质上创建一个系统测试范式，其中使用面向系统的测试方法。正如Introspect Technology首席执行官Mohamed Hafed博士解释的那样，“我们发现世界各地的产品工程师都在晶圆排序和最终测试期间尽可能地模仿系统级功能。因此，我们开始创建一个生产测试模块，利用我们独特的单片MIPI物理层来实现这一点。SV4D不仅能够使用简化的设备测试模式进行结构测试，而且还能够完全测试所测试设备的链路和软件层。”
Introspect技术的SV4D解决了新生产测试方法的需求
Introspect Technology设计了SV4D测试模块，以满足ATE并行、高速、面向系统的测试方法的需求，该方法密切模仿被测设备的最终应用。实现传统设备无法企及的集成水平，它可以用于测试:
- 包含MIPI的应用程序处理器或AI协处理器DSI℠，DSI-2℠，或CSI℠接口;
- 显示驱动器ic包含MIPI DSI或DSI-2接口;
- 包含MIPI的图像传感器CSI-2℠接口;
- 包含MIPI的无线和物联网设备D-PHY或C-PHY；而且
- 在isp或信息娱乐芯片组中发现的sLVDS链接。
SV4D支持多站点测试，可以进行电气测试和协议测试，并使用浮动互连架构，使其可用于晶圆探针应用以及最终测试应用。
随着MIPI接口的应用范围扩展到移动之外，Introspect Technology的SV4D的发布对于自动测试行业来说是再及时不过的了，因为传统ATE和过时的测试方法的约束使其越来越难以满足一致性标准。SV4D承诺提供一个高效的功能测试平台，不仅支持传统ATE功能，而且还解决了最新的MIPI测试需求。高速数字产品的大批量制造商所产生的质量成本只会不断上升，然而在ATE上部署SV4D的客户已经看到了测试执行效率和成本的重大改善。随着Introspect Technology的SV4D的成功，实现每百万单位出货零缺陷可能并不遥远。
SV4D直接连接MIPI测试模块测试仪可从Introspect Technology或通过其全球认可的产品购买分销商。