3,设备(A3 + A4)是相同的,并且是真实写照。通过路径中存在的设备以及2 x通过(B1),导致大的反射。2 x透的插入损耗(IL)和回波损耗(RL) 13.2和33.7 GHz相互交叉,如图7所示。注意,de-embedding结果,RL一般不应超过他。毕竟不可能提取隐藏在一个完整的DUT短或开放。在特殊情况下,夹具和2 x通过是相同的,在这种情况下,DUT可能仍然是提取具有良好的准确性存在强烈的反射,如图8和9。
图7。例3插入和回波损耗
5,设备(A1 + A2) 50欧姆微带和2 x通过(A5 + A6)是一个45欧姆微带。DUT, 6厘米50欧姆微带(B1),提取。这个设置是模仿最实用的应用程序在设备和2 x通过没有相同的阻抗在每一个位置。结果,如图10 - 12,证明2 x通过传统方法(Dmbd-1)给了重大错误IL, RL和热带病研究和培训特别规划,而impedance-corrected 2 x通过方法(Dmbd-2)仍然能够提取DUT具有很高的准确性。传统2 x通过方法分裂2 x de-embedding直接通过,因此,夹具和2 x通过阻抗差异表现为非因果错误de-embedded DUT的结果。这种非因果错误产生人工波纹DUT的IL和RL,并产生一个响应在时间为零(DUT)之后,TDR波形。impedance-corrected 2 x通过方法,另一方面,是免费的因果关系错误,因为它修改de-embedding的参数匹配夹具的阻抗。
因此,对于明显的阻抗变化的情况下夹具和2 x-thru结构,使用impedance-corrected 2 x-thru方法才能获得良好的效果是必要的。
图12。例5 DUT阻抗
参数质量工具和度量
考虑到大量的数据通常包含的参数,往往很难确定没有一些定量评价数据的质量。手动的比较情节痕迹为质量评价是不够的。类似的工具可能已经存在或将来会存在,但P370委员会也为所有用户提供了一个免费工具来评估自己的工具。使用DUT 5为例,应用P370质量工具一个参数造成的次优de-embedding算法产生的结果如图13所示。CQM的价值,在这种情况下是81 mV 10 Gbps的数据率,一个相当糟糕的结果。注意值依赖于数据速率,这决定了感兴趣的最大频率。相应的值在40 Gbps 167 mV。使用推荐的参数提取2 x阻抗修正de-embedding算法,另一方面,产生的结果在图13 b, CQM 7 mV的价值,显著提高价值。
图13。参数块为“坏”和“好”的参数
图14显示了s21脉冲响应,表明严重非因果为次优de-embedding拖延行为的情况。
图14。s21脉冲响应块坏”和“好”的参数
表2总结了三个P370质量指标的值的参数。的参数都是被动的,由PQM的零值表示。发现严重的非因果行为,所显示的81 mV non-impedance CQM值纠正情况。非impedance-corrected数据只是稍微非互惠性的。
表2。质量度量总结DUT 5
比较的参数
定量比较的参数可以是非常有用的验证数据,并更精确的比一个简单的定性(“眼球”)的情节比较特定的参数;e . g。,s21. A sample plot for one parameter (s11) for simulated and de-embedded results is shown in Figure 15. Figures 16 and 17 show the similarity metrics for two individual S-parameters from the same data. These would have to be reviewed for each individual S-parameter of concern; e. g., s11, s21, etc. Note that the port numbering in this example is not conventional, so s31 is the insertion loss.
图15。测量和de-embedded s11和s31数据比较
图16。样本s11错误情节和指标
图17。样本s31错误情节和指标
结论
IEEE P370标准提供指导夹具设计、最佳实践、数据库用于验证de-embedding工具和示例工具来评估和比较参数数据。设计夹具和测量装置使用50兆赫是重要的,,希望这篇文章给了一些见解的潜在使用标准出版时。
确认
作者要感谢IEEE P370委员会的成员为他们的贡献标准和摘要。
引用
- Diepenbrock, J。等人。”IEEE P370:夹具设计和数据质量度量标准连接多达50兆赫”。
本文最初发表于EDI反对美国2018。
